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  • 日本日置电阻测试仪BT3562
    日本日置电阻测试仪BT3562

    电池测试仪BT3562?HIOKI日本日置锂电池的可靠性判断10秒●低频AC-IR*测量,测量时间短*使用1Hz以下的低频测量内阻的话不需要充放电●也能精确*测量低阻电池*改善S/N比,在3mΩ量程下测试电流为1.5A●电路结构较难受到接触电阻和布线电阻的影响,实现稳定测量●同时测量阻抗和电压

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  • 阻抗分析仪IM7585 HIOKI 日本日置
    阻抗分析仪IM7585 HIOKI 日本日置

    阻抗分析仪IM7585HIOKI日本日置 高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:Z快0.5ms,测量值偏差0.07% ●测量频率:1MHz~1.3GHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●测量值偏差:0.07%(测量频率1GHz时的代表值) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛

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  • 阻抗分析仪IM7583 HIOKI 日本日置
    阻抗分析仪IM7583 HIOKI 日本日置

    阻抗分析仪IM7583HIOKI日本日置 高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:Z快0.5ms ●测量频率:1MHz~600MHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

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  • 阻抗分析仪IM7581 HIOKI 日本日置
    阻抗分析仪IM7581 HIOKI 日本日置

    阻抗分析仪IM7581HIOKI日本日置 Z快0.5ms,覆盖100kHz~300MHz的低频 ●测量频率1MHz~300MHz ●测量时间:Z快0.5ms ●基本精度±0.72%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

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  • 阻抗分析仪IM7580A HIOKI 日本日置
    阻抗分析仪IM7580A HIOKI 日本日置

    阻抗分析仪IM7580AHIOKI日本日置 Z快0.5ms,高速、高稳定测量,节省空间的半个机架大小 ●测量频率1MHz~300MHz ●测量时间:Z快0.5ms ●基本精度±0.72%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

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  • 化学 阻抗分析仪IM3590 HIOKI 日本日置
    化学 阻抗分析仪IM3590 HIOKI 日本日置

    化学阻抗分析仪IM3590HIOKI日本日置 用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容) ●适用于离子运动和溶液电阻测量,1mHz~200kHz的宽范围信号源 ●1台机器即可实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检查 ●可测量电池的无负载状态产生的内部电阻 ●Z快2ms的高速测量,实现扫描测量的高速化 ●基本精度±0.05%,零件检查到研究开发测量均可对应 ●

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  • 阻抗分析仪 IM9000 HIOKI 日本日置
    阻抗分析仪 IM9000 HIOKI 日本日置

    电阻测试仪等效回路分析软件IM9000HIOKI日本日置 简化回路分析&细化PASS/FAIL判定 ●IM9000可以从5个标准模型中自动选定等效回路模型,将测量值和由分析结果得到的理想频率特征之间的差异Z小化。 ●可以对由一个部件和谐振锐度(机械品质因数)组成的L,C,R元件做PASS/FAIL判定。 ●可以对使用压电元件谐振或电感的元件做详细的判定。

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  • 阻抗分析仪 IM9201 HIOKI 日本日置
    阻抗分析仪 IM9201 HIOKI 日本日置

    电阻测试仪SMD测试夹具IM9201HIOKI日本日置 高频测量3GHz,对应6种尺寸的SMD ●IM7580系列专用SMD测试治具 ●2种设备指南,可对应6种尺寸的SMD ●对应SMD尺寸※10603,1005,1608,2012,3216,3225 ※1:JIS单位mm,相当于EIA0201~EIA1210尺寸 阻抗分析仪IM9201HIOKI日本日置

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  • 数字多用表3237 HIOKI 日本日置
    数字多用表3237 HIOKI 日本日置

    数字多用表3237HIOKI日本日置 高速数字多用表(3.3ms/S),将时序控制响应时间减至Z小,经济型 ●采样速率高达300次/s(3.3ms/S) ●比较器功能提供高速合格/不合格评估 ●配备外部输入输出用于时序控制 ●有用的存储/调用功能,加快测量过程 ●外部接口支持远程操作

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  • 数字多用表3238 HIOKI 日本日置
    数字多用表3238 HIOKI 日本日置

    数字多用表3238HIOKI日本日置 高精度,多功能型 ●采样速率高达300次/s(3.3ms/S) ●比较器功能提供高速合格/不合格评估 ●配备外部输入输出用于时序控制 ●有用的存储/调用功能,加快测量过程 ●外部接口支持远程操作 ●AC/DC电流及频率测量功能

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